📄️ 4.1 LED测试
  ATK-DLMP257B开发板上配有一个用户LED灯，默认在uboot阶段配置为常亮，在内核启动之后闪烁。
📄️ 4.2 按键测试
  ATK-DLMP257B开发板上配有一个用户按键KEY，按键位置如下图所示：
📄️ 4.3 MIPI LCD测试
  此节仅适用于选配了正点原子MIPI屏幕的开发板用户。
📄️ 4.4 RGB LCD测试
  此节仅适用于选配了正点原子RGB屏幕的开发板用户。
📄️ 4.5 LVDS LCD测试
  此节仅适用于选配了正点原子10.1寸LVDS屏幕的开发板用户。
📄️ 4.6 LVDS双屏测试
  ATK-DLMP257B开发板支持LVDS同显，开发板上有LVDS1和LVDS2两个接口，可以同时接两个正点原子10.1寸LVDS屏幕，LVDS1支持触摸，LVDS2不支持触摸。
📄️ 4.7 8 lanes LVDS屏幕测试
  ATK-DLMP257B开发板支持8 lanes LVDS屏幕，正点原子店铺没有出售此屏幕，有需要的用户可以自行在淘宝其他店铺购买。
📄️ 4.8 以太网接口测试
  ATK-DLMP257开发板板载3 路千兆以太网，自适应10/100/1000M 速率。值得注意的是，STM32MP257芯片有两个GMAC，ETH2是一路GMAC出来的，另外一路GMAC内置了以太网交换机功能，分出了ETH1和ETH3。也就是说ETH2是常规的以太网功能，ETH1和ETH3是以太网交换机功能。
📄️ 4.9 RS232串口测试
  ATK-DLMP257B开发板板载一路RS232，测试前需要准备一根USB转RS232公头串口线，将USB端接入电脑，RS232公头接入开发板RS232接口。
📄️ 4.10 RS485串口测试
  ATK-DLMP257B开发板板载1路RS485，测试前需要准备正点原子USB转换器来完成测试，如下图所示：
📄️ 4.11 CAN测试
  ATK-DLMP257B开发板板载三路CAN（均支持CAN FD）。在测试CAN 之前，需要准备好测试CAN 的仪器，比如致远电子的CAN 分析仪、创芯科技的CAN 分析仪和广成科技的CAN 分析仪等，否则只能用两块不同开发板的CAN 或者其他CAN 设备测试。关于CAN 仪器及CAN上位机的使用，请参照各厂商产品的使用说明书。
📄️ 4.12 CAN FD测试
  下面采用CAN 测试设备（支持CAN FD），进行CAN FD 测试。如果CAN 测试设备不支持CAN FD 功能，则不能用于测试CAN FD。
📄️ 4.13 USB测试
4.13.1 USB HOST测试
📄️ 4.14 RTC时钟测试
  ATK-DLMP257开发板有两个硬件时钟，一个是核心板上的处理器内部的RTC时钟（/sys/class/rtc/rtc0）。另外一个是底板上RTC时钟芯片AT8563，属于芯片外部RTC时钟（/sys/class/rtc/rtc1），由RTC纽扣电池供电，开发板掉电仍保存时间和计时。若需要提高时钟的精度，需要用高精度的晶振。
📄️ 4.15 EEPROM测试
  ATK-DLMP257B开发板板载EEPROM芯片，型号为AT24C64，它通过I2C总线进行读写访问，具备8KB存储空间。
📄️ 4.16 SPI FLASH测试
  ATK-DLMP257B开发板板载SPI NOR FLASH 芯片，型号为W25Q128，它通过SPI 总线进行读写访问，具备16MB 存储空间。
📄️ 4.17 音频测试
  ATK-DLMP257B开发板板载一颗高性能音频编解码芯片ES8388。板载麦克风可录音，底
📄️ 4.18 板载USB WIFI测试
   ATK-DLMP257B开发板采用WIFI&蓝牙二合一模组，芯片为RTL8733BU。
📄️ 4.19 板载蓝牙测试
  ATK-DLMP257B开发板采用WIFI&蓝牙二合一模组，芯片为RTL8733BU。
📄️ 4.20 4G模块EC20测试
  正点原子ATK-DLMP257B底板上预留4G 模块接口（MINI PCIE接口），支持正点原子店铺在售的ME3630-W、EC20等4G 模块的安装。
📄️ 4.21 4G模块ME3630测试
  ATK-DLMP257B开发板预留一个4G 模块接口（MINI PCIE接口），支持ME3630-W，EC20 等4G 模块的安装。准备ME3630-W 4G 模块，将ME3630-W 4G 模块插到4G 模块接口处，拧上螺丝。保证4G 模块与座子接口吻合连接。请使用原装天线，把天线连接到4G 模块的MAIN接口处。（温馨提示：4G 模块在开封使用后，金手指容易氧化，时间长了上面会有一层氧化膜，如果多次实验 不成功，请检查4G模块是否插好，或者是否有氧化膜。使用后请保存好4G 模块！）
📄️ 4.22 TF卡测试
  指令提示：
📄️ 4.23 IMX335摄像头测试
  实验前请准备正点原子IMX335 摄像头模块，正点原子的电容屏。
📄️ 4.24 ADC测试
  注意：ADC 的采集电压绝对值最大是1.8V，请不要超过1.8V，否则可能对芯片造成损坏。
📄️ 4.25 DHT11测试
   DHT11 简介：
📄️ 4.26 FAN接口测试
  实验前请准备正点原子散热风扇套件。
📄️ 4.27 PCIE2.0 x1接口测试
  ATK-DLMP257B开发板引出了一路PCIE2.0 x1接口，可以外接PCIE2.0 x1接口的设备。
📄️ 4.28 WK_UP按键测试
  ATK-DLMP257B开发板上有一个WK_UP按键，默认配置为休眠唤醒功能，测试方法如下：
📄️ 4.29 USB_OTG接口测试
  ATK-DLMP257B开发板上有一个USB_OTG接口，此接口可以用于上位机USB模式烧写，参考第三章。也可以接一个OTG转USB线来外接USB设备，这里笔者用TF卡+读卡器来代替U盘，接法示例如下：
📄️ 4.30 A35&M33异核通信测试
  ATK-DLMP257B开发板有一个M33核，具体用法可以看网盘资料里的【正点原子】ATK-DLMP257B异核通信快速开发手册。在串口终端，选择USB-Enhanced-SERIAL-B-CH342，就可以打开M核串口，波特率115200，查看调试信息。
📄️ 4.31 M0核测试
  请参考网盘资料里的教程文档的【正点原子】ATK-DLMP257B异核通信快速开发手册V1.0 《第五章 CM0+实战项目》
📄️ 4.32 CPU温度
  使用下面指令查看CPU 温度，温度的高低与环境温度及CPU 运行状况有关，例如跑一些大的应用，跑视频音频等，温度会高一些，不建议用手触摸CPU 表面，防止带静电导致芯片烧坏。
📄️ 4.33 CPU主频
  使用cpufreq-info 指令查看CPU 主频。
📄️ 4.34 查看系统信息
4.34.1 查看系统内核版本